Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analiza złożonych materiałów o strukturze włókien mineralnych w oparciu o nieinwazyjne metody spektroskopowe

Tytuł:
Analiza złożonych materiałów o strukturze włókien mineralnych w oparciu o nieinwazyjne metody spektroskopowe
Autorzy:
Śmieszek-Lindert, W.
Bajorek, A.
Kubacki, J.
Data publikacji:
2015
Słowa kluczowe:
wełna mineralna
nieorganiczny materiał izolacyjny
XRF
XPS
Mineral wool
inorganic insulating material
Język:
polski
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie  Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule przedstawiono skład chemiczny warstwy powierzchniowej i objętościowej wełny szklanej i skalnej. Analizy zostały przeprowadzone przy użyciu dwóch metod instrumentalnych (nieinwazyjnych technik), rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej (XRF, X-Ray Fluorescence) i rentgenowskiej spektrometrii fotoelektronów (XPS, X-Ray Photoelectron Spectroscopy). Zaobserwowano, że skład wełny szklanej i skalnej jest zróżnicowany. Charakteryzuje się on zawartością głównych tlenków, takich jak SiO2, Al2O3, CaO, MgO oraz Fe2O3. Analizowane wełny mineralne są materiałami o złożonym składzie chemicznym, a użyte metody spektroskopowe w dobrym stopniu odzwierciedlają ich główne składniki. Wykazano przewagę rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej (XRF) nad metodą XPS, oraz ich wzajemną komplementarność.
Chemical composition of glass wool and stone wool has been investigated. Researches were carried out by using two analytical techniques, X-ray fluorescence analysis (XRF) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The both methods are non-destructive. It was observed that composition of the glass wool and stone wool is variable, but it characterizes by the content of the main oxides as SiO2, Al2O3, CaO, MgO, and Fe2O3. Analyzed wool samples are materials having complex chemical composition, and used spectroscopic methods in good extent reflect their main ingredients. It has been demonstrated the advantage of XRF method over the use of XPS technique, and their mutual complementarity.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies