Tytuł pozycji:
Znaczenie sił styku w testach układów scalonych płytek krzemowych. Cz. 1
W części pierwszej artykułu przedstawiono znaczenie siły docisku w kartach wspornikowych jako jednego z najważniejszych parametrów w testowaniu układów scalonych. Zaprezentowano właściwości materiałów używanych do budowy mikrokontaktorów (μkontaktorów) wspornikowych. Omówiono udoskonaloną metodę projektowania μkontaktorów wsporników.
The first part of the article presents the importance of the contact force in cantilever probe cards as one of the most important parameters in the IC testing. Properties of materials used in the construction of cantilever probes (μcontactors) are presented. An improved method of probe designing with the use of the 3D finite element models is discussed.
Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2021).
