Electronic stabilizing circuit to increase precision of measuring vacuum instruments

The paper presents an electronic circuit (patent No 274169) to control ion source in measuring vacuum instruments. A mathematical model of a thermoionic ionizing beam source developed by the authors has been applied to the theoretical description. Experimental results obtained with the application of a cycloidal mass spectrometr are also included in the paper and they confirm significant enhancement of metrological properties (accuracy, repeatability) of vacuum instruments.

---

W pracy przedstawiony został układ elektroniczny (Patent Nr 274169) sterujący źródłem jonów w próżniowych przyrządach pomiarowych. W opisie teoretycznym wykorzystano opracowany przez autorów model matematyczny źródła termoelektronicznej wiązki jonizującej, zamieszczono również wyniki badań eksperymentalnych, przeprowadzonych przy użyciu cykloidalnego spektrometru mas, które potwierdzają zdecydowaną poprawę właściwości metrologicznych (dokładności i powtarzalności wyników pomiarów) przyrządu próżniowego.