Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Optimization of processes designed for ensuring the quality and reliability of electronics using cumulative models of defectiveness and total production expenses

Tytuł:
Optimization of processes designed for ensuring the quality and reliability of electronics using cumulative models of defectiveness and total production expenses
Autorzy:
Bobalo, Y.
Nedostup, L.
Kiselychnyk, M.
Melen, M.
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
quality
reliability
defectiveness
manufacturing process
jakość
niezawodność
proces produkcji
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The paper offers an approach to solving the problem of ensuring the quality and reliability of electronics using a comprehensive optimization of manufacturing processes by means of the criteria of minimization of defectiveness and total expenses with application of end-to-end mathematical models.
W artykule opisano sposób rozwiązania problem zapewnienia jakości I niezawodności elektroniki. Wykorzystano optymalizację procesu wytwarzania z kryterium minimalizacji defektów bazując na modelu matematycznym.
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies