Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Ilościowa analiza porowatości materiału sypkiego z zastosowaniem systemu tomografii promieniowania X

Tytuł:
Ilościowa analiza porowatości materiału sypkiego z zastosowaniem systemu tomografii promieniowania X
Autorzy:
Grudzień, K.
Adrien, J.
Babout, L.
Romanowski, A.
Chaniecki, Z.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
materiał sypki
porowatość
tomografia promieni X
radiografia
solid
porosity
X-ray tomography
radiography
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie  Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie
Artykuł opisuje możliwości zastosowania tomografu opartego na promieniowaniu X do pomiaru porowatości materiału sypkiego o gęstym upakowaniu, znajdującego się w prostokątnym modelu silosu. Otrzymane wstępne wyniki prac doświadczalnych ukazują możliwości pomiarowe użytego systemu. Zaprezentowane rezultaty dotyczą statycznego pomiaru piasku w silosie. Porównane zostały dwa różne obszary silosu, z różnym rodzajem upakowania piasku i przeprowadzona została analiza jakościowa uzyskanych wyników. Przedstawiono również teoretyczny opis wpływu parametrów poszczególnych składników tomografu X na jakość uzyskiwanych rezultatów. Została przedyskutowana procedura przygotowania i dobrania najodpowiedniejszych ustawień narzędzia pomiarowego w celu jak najlepszej analizy ilościowej obrazów tomograficznych.
Paper presents feasibility study of X Ray tomography system application to porosity measurement of dense packed bulk solid in rectangular silo model. Obtained preliminary experimental results reveal the measurement capabilities of the tested system. Results presented are for static measurement of silo sand filling. There is a comparison between two different silo regions, with different packing density values of sand, and qualitative analysis of results is performed. Theoretical description of distinct parameters of X Ray tomography system parts influence on quality of obtained results is presented. Additionally, the discussion on procedure of preparation and adjustment of measurement system parameters in order to achieve best data for quantitative analysis of tomography images is cover in this paper.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies