Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Emisja polowa z materiałów układu węgiel - metal

Tytuł:
Emisja polowa z materiałów układu węgiel - metal
Autorzy:
Czerwosz, E.
Data publikacji:
1999
Słowa kluczowe:
emisja polowa
badania
wyniki badań
zastosowanie
field emission
research
results of research
employment
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule zostały przedstawione wyniki badań niektórych własności (struktury, składu, rezystancji oraz ich zmiany pod wpływem zachodzącej emisji elektronowej) warstw układu węgiel - metal M (M = Ni, Pd). Badanie wykonano metodami: transmisyjnej i skaningowej mikroskopii elektronowej, dyfrakcji elektronowej, spektrometrii dyspersji energii oraz spektrometrii ramanowskiej. Badania własności elektrycznych warstw i pomiary związane z emisją elektronową wykonywane były w specjalnie skonstruowanym układzie diody pomiarowej. Zmierzono charakterystyki prądowo-napięciowe warstw wykazujących emisję elektronową. Natężenie prądu tej emisji można było korelować ze strukturą warstw. Dla niektórych warstw otrzymano wysoką gęstość prądu emisji elektronowej, np. J - 1A/cm2 przy polu E = 5 V/um.
Tne results of the investigations of structure, composition and some electrical properties as well as electron emission experiment for carbon - metal M (where M = Ni, Pd) films are presented in this paper. The structural studies were performed with transmission and scanning electron microscopy, electron diffraction and Raman spectrometry. The composition of the films was obtained with energy dispersive spectrometry and chemical analysis. The electrical properties of these films and electron emission current were measured with specially constructed diode system. I-U characteristics were obtained for the films exhibiting electron emission. The intensityof electron current was correlated with the structure of films. High density of electron current was obtained for Iow threshold fields for some films. It was observed J - 1A/cm2 for field value E = 5 V/um.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies