Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Stanowisko pomiarowe do badania przetworników analogowo-cyfrowych z interfejsem użytkownika opracowanym w środowisku LabVIEW

Tytuł:
Stanowisko pomiarowe do badania przetworników analogowo-cyfrowych z interfejsem użytkownika opracowanym w środowisku LabVIEW
Autorzy:
Szermer, M.
Pietrzak, P.
Daniel, M.
Napieralski, A.
Data publikacji:
2004
Słowa kluczowe:
przetworniki analogowo-cyfrowe
LabVIEW
analog-to-digital converters
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule przedstawiono stanowisko pomiarowe przeznaczone do badania wybranych parametrów przetworników analogowo-cyfrowych. W swej podstawowej wersji, zostało ono przystosowane do współpracy z rekonfigurowalnym przetwornikiem, zrealizowanym w Katedrze Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Wprowadzenie do tematu stanowi opis struktury badanego przetworniko. W dalszej części, omówiono rozwiązania sprzętowe wykorzystane w konstrukcji stanowiska pomiarowego składającego się z płytki pomiarowej PCB, badanego przetwornika oraz zainstalowanej w komputerze karty pomiarowej NI6025E. Przedstawiono aplikację opracowaną w środowisku LABVIEW. umożliwiającą m.in. konfigurację badanego przetwornika i analizę jego sygnałów wyjściowych oraz wyniki wstępnych pomiarów.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies