Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Metodyka badań parametrów technologicznych warstw wierzchnich otrzymywanych w procesach dyfuzyjnych. część II

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Metodyka badań parametrów technologicznych warstw wierzchnich otrzymywanych w procesach dyfuzyjnych. część II
Współwytwórcy:: Klimek, Leszek
Rzepkowski, Antoni
Politechnika Łódzka. Wydział Mechaniczny. Instytut Inżynierii Materiałowej
Rzepkowski, Adam
Jakubowski, Krzysztof
Data publikacji:: 2006
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: III Ogólnopolska Konferencja; Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni; Łódź-Spała, 3-6 października 2006.

Streszcz. ang.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Metodyka badań parametrów technologicznych warstw wierzchnich otrzymywanych w procesach dyfuzyjnych. część II