Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analysis of electrical equivalent circuit of metal-insulator-semiconductor structure based on admittance measurements

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Analysis of electrical equivalent circuit of metal-insulator-semiconductor structure based on admittance measurements
Współwytwórcy:: Kochowski, S.
Paszkiewicz, B.
Paszkiewicz, R.
Szydłowski, M.
Data publikacji:: 2008
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: 1st Polish Conference on Nanotechnology NANO 2007; Wrocław, 26-28 April 2007.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Analysis of electrical equivalent circuit of metal-insulator-semiconductor structure based on admittance measurements