Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych = Evaluation of the mounting quality of laser diodes emitting at 808nm by thermal resistance and spectral characteristics measurements

Tytuł:: Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych = Evaluation of the mounting quality of laser diodes emitting at 808nm by thermal resistance and spectral characteristics measurements
Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 3
Autorzy:: Dąbrowska Elżbieta
Współwytwórcy:: Maląg Andrzej
Teodorczyk Marian
Sobczak Grzegorz
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: rezystancja termiczna
Electronic - journal - materials
thermal resistance
charakterystyka spektralna
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dioda laserowa
p-n junction
Elektronika - czasopismo - materiały
laser diode
Źródło:: http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6056
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6056
ITME, sygn. dostępny
Język:: polski
Prawa:: Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/27752/content Link otwiera się w nowym oknie
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

Bibliogr. s. 9

3-9 s. : il. 30 cm.

Informacja