Rozwój metod charakteryzacji materiałów w zakresie subterahercowym

W artykule przedstawiono problematykę charakteryzacji materiałów w zakresie subterahercowym, ze szczególnym uwzględnieniem quasi-optycznych metod pomiarowych. Zaprezentowany został system pomiarowy opracowany w Instytucie Radioelektroniki PW umożliwiający charakteryzację różnorodnych materiałów w paśmie do 0,5 THz. Omówiono także nową metodę pomiarową wykorzystującą ideę interferometru z możliwościami współczesnego, wektorowego analizatora obwodów, dzięki której możliwe jest bardzo precyzyjne wyznaczanie przenikalności elektrycznej badanych materiałów.

---

The paper presents techniques of material characterization in sub-terahertz range with particular focus on quasi-optical techniques. Measurement setup developed in the Institute of Radioelectronics, Warsaw University of Technology for characterization of different types of materials is demonstrated. Novel measurement technique based on idea of interferometer and capabilities of modern VNA is also described. This method enables to determine of the permittivity with very high precision.