Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry

Tytuł:
Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry
Autorzy:
Tian, Z.
Chen, W.
Su, X.
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
phase measurement profilometry
digital-light-processing projector
DLP projector
error diffusion algorithm
binary encoded grating
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie  Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie
Insufficient resolution of digital-light-processing projector will degrade the sinusoidal quality of the binary encoded fringe pattern because of less sampling points in a fringe period, which will degrade the measurement accuracy if it is used in phase measurement profilometry. Two resolutions are proposed in the paper. One is that a cylindrical lens is introduced in the projecting light path of the measurement system to improve sinusoidal quality of the binary encoded fringe by elliptical low-pass filtering of the system. The other one is that superposition of multi-frame binary encoded gratings with different microstructure is to reduce the binary image noise for improving the measurement accuracy. Simulations and experiments verify the validity of the above two methods.
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies