Depth-profile of residual stresses in metallic/ceramic coatings

The use of X-ray diffraction techniques provides the wide possibilities of applying non destructive tensometry, especially for coatin gs and near-surface layers. It consists in control of residual stresses arising after different technologies or exploitation conditions. In this paper the "sin2 ψ" method of X-ray stress measurement applied to analysis of its depth profile in Cr, and CrN/Cr coatings is presented. Explanation of physical origins of the stresses revealed by carried out experiments and prediction of the stress evolution in the examined coatings are discussed.

---

Technika dyfrakcji rentgenowskiej dostarcza szerokich możliwości stosowania nieniszczącej tensometrii, szczególnie w powłokach materiałowych i warstwach przypowierzchniowych. Polega ona na kontroli naprężeń własnych powstających po różnego rodzaju procesach technologicznych jak i w wyniku eksploatacji. W niniejszym artykule zaprezentowano rentgenowską metode "sin2 ψ" pomiaru naprężeń w zastosowaniu do analizy ich profilu głębokościowego w powłokach Cr i CrN/Cr. Przedyskutowano fizyczne uwarunkowania generowanych naprężeń na podstawie wykonanych doświadczeń i przewidywanego rozwoju naprężeń w badanych powłokach.