Metody samotestowania specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym

Budowa sterowników lokalnych jako urządzeń specjalizowanych w układach FPGA, umożliwia otrzymanie nowej klasy urządzeń, posiadających zalety dotychczasowych urządzeń, jednocześnie pozbawionych większości ich wad. Bezpośrednia odpowiedzialność za bezpieczeństwo uczestników ruchu, powoduję, że niezwykle ważnym zagadnieniem jest testowanie specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym. Testowanie zarówno na wszystkich etapach powstawania tych urządzeń jak i podczas ich pracy w systemie sterowania. Przedmiotem pracy jest analiza metod wbudowanego samotestowania (BIST) urządzeń cyfrowych oraz badanie ich przydatności do testowania urządzeń sterowania ruchem realizowanych w układach FPGA. Wybrane metody samotestowania zaimplementowano w modelach specjalizowanych sterowników ruchu drogowego i weryfikowano ich działanie. Badano również prototypy sterowników ruchu w zestawach uruchomieniowych z układami FPGA. Umożliwiło to analizę wykrywania błędówi uszkodzeń realizacji urządzeń. Badano również wpływ nadmiarowych elementów testowych na parametry działania sterowników.

---

Construction of local controllers as specialized devices within FPGA systems allows for obtaining a new class of devices having the advantages of already existing devices which are simultaneously deprived of most of their disadvantages. Direct responsibility for the safety of traffic participants makes the testing of specialized traffic control devices an extremely important issue. Testing performed both in all stages of the formation of such devices as well as during their operation in the control system. The aim of the paper is to analyze methods of built-in self-test (BIST) of digital devices and study their suitability for testing traffic control devices implemented in FPGA systems. Selected methods of self-testing have been implemented in models of specialized traffic controllers and their operation has been verified. Prototypes of traffic controllers have also been tested in starter kits in FPGA systems. This enabled the analysis of error detection and failures in the implementation of devices. Influence of redundant test elements on operation parameters of controllers has also been investigated.