Energia błędu ułożenia a mechaniczne bliźniakowanie na przykładzie wysokomanganowej stali X30MnAlSi26-4-3

W pracy przedstawiono wyniki obliczeń wartości energii błędu ułożenia wysokomanganowej stali X30MnAlSi26-4-3 na podstawie składu chemicznego z wykorzystaniem modelu termodynamicznego zaproponowanego przez G.B. Olson, M. Cohen [1]. Przedstawiono procedurę obliczeniową opartą na modyfikacji wartości ÄGg →ε − molowej energii swobodnej między g i ε, zaproponowaną przez Frommayera [2]. Modyfikacja uwzględnia parametry termodynamiczne określone dla głównych pierwiastków stopowych, tj. C, Mn, Al oraz Si. Wybór zastosowanej metody podyktowany był składem chemicznym badanej stali X30MnAlSi26-4-3. Wyznaczona wartość EBU wskazuje, że badana stal powinna wykazywać skłonność do tworzenia mechanicznych bliźniaków indukowanych odkształceniem plastycznym. Występowanie bliźniaków odkształcenia ujawniono w materiale poddanym próbom dynamicznego odkształcania z zastosowaniem różnej prędkości odkształcenia. Badania strukturalne wykonano z wykorzystaniem techniki skaningowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej.

---

The stacking fault energy of the X30MnAlSi26-4-3 steel was evaluated by analytical method based on chemical composition using a thermodynamic model proposed by Olson G. B., Cohen M. [1]. The paper presents the calculation procedure is based on the modification of the value − the molar free energy between the g and ε proposed by Frommayer [2]. The modification takes into account the thermodynamic parameters determined for the major alloying elements, ie. C, Mn, Al and Si. The choice of the method used was dictated by the investigated steel chemical composition X30MnAlSi26-4-3. The designated value of the SFE indicates that the steel should have a tendency to form mechanical twins induced. The occurrence of deformation twins are disclosed in the material subjected to dynamic deformation tests with the use of a different strain rate. Structural studies were performed using the technique of scanning transmission electron microscopy.