Przyrządy półprzewodnikowe : badania mechaniczne i klimatyczne. Cz. 19, Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Przyrządy półprzewodnikowe : badania mechaniczne i klimatyczne. Cz. 19, Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie
Współwytwórcy:: Polski Komitet Normalizacyjny Instytucja sprawcza Wydawca
Data publikacji:: copyright 2003
Wydawca:: Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, copyright 2003
Tematy:: Półprzewodniki
Przyrządy pomiarowe
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Inne

Przejdź do źródła

Tekst angielski, tytuł i uwagi na ekranie tytułowym polskie.

Tytuł z ekranu tytułowego.

normy

Norma wprowadza EN 60749-19:2003, IDT ; IEC 60749-19:2003, IDT ; zatwierdzona 1 kwietnia 2003 r.

Norma Europejska EN 60749-19:2003 [...] ma status Polskiej Normy.

Informacja

Przyrządy półprzewodnikowe : badania mechaniczne i klimatyczne. Cz. 19, Wytrzymałość struktur półprzewodnikowych na ścinanie