Application of synchrotron radiation based X-ray reflectometry in analysis of TiO₂ nanolayers, unmodified and irradiated with Xeq⁺ ions

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Application of synchrotron radiation based X-ray reflectometry in analysis of TiO₂ nanolayers, unmodified and irradiated with Xeq⁺ ions
Współwytwórcy:: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Szary, Karol (fizyk) Autor
Świętokrzyskie Centrum Onkologii (Kielce)
Instytut Fizyki (Uniwersytet Jana Kochanowskiego ; Kielce)
Božičević Mihalić, Iva Autor
Teodorczyk, Marian Autor
Banaś, Dariusz Autor
Kubala-Kukuś, Aldona Autor
Stabrawa, Ilona Autor
Pajek, Marek Autor
Aquilanti, Giuliana Autor
Jagodziński, Paweł (fizyk) Autor
Stachura, Regina Autor
Semaniak, Jacek (1964- ) Autor
Data publikacji:: 2020
Tematy:: Nanomateriały
Jony ciężkie
Reflektometria rentgenowska
Ksenon
Promieniowanie synchrotronowe
Tlenek tytanu (IV)
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

referat

artykuł z czasopisma fizycznego

Materiały z konferencji: LIV Zakopane School of Physics International Symposium Breaking Frontiers: Submicron Structures in Physics and Biology, 21-25 maja 2019 r., Zakopane.

artykuł z czasopisma naukowego

Bibliografia na stronie 43.

Informacja

Application of synchrotron radiation based X-ray reflectometry in analysis of TiO₂ nanolayers, unmodified and irradiated with Xeq⁺ ions