Inteligentny system pomiarowy do badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych

Tytuł:: Inteligentny system pomiarowy do badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych
Współwytwórcy:: Jankowski, Stanisław
Kamiński, Paweł
Pawłowski, Michał
Kozłowski, Roman
Miczuga, Marcin
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Wierzbowski, Mariusz
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Politechnika Warszawska. Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych. Instytut Systemów Elektronicznych
Data publikacji:: 2005
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. ang.

Materiały konferencyjne: VII Konferencja Naukowa "Technologia Elektronowa" ELTE 2004; Stare Jabłonki, 19-22 kwietnia 2004.

Informacja