Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym
Współwytwórcy:: Piątkowski, Łukasz
Politechnika Poznańska. Wydział Fizyki Technicznej. Katedra Inżynierii i Metrologii Kwantowej
Jarosz, Andrzej
Furman, Bogusław
Dembczyński, Jerzy
Głowacki, Przemysław
Buczek, Adam
Stefańska, Danuta
Data publikacji:: 2006
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: Metrologia Kwantowa; Poznań, 9-10 maja 2006.

Streszcz. ang.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym