Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Computer measuring set of transient thermal impedance of power semiconductor devices with metal-semiconductor junctions

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Computer measuring set of transient thermal impedance of power semiconductor devices with metal-semiconductor junctions
Autorzy:: Bisewski, Damian
Współwytwórcy:: Zarębski, Janusz
Dąbrowski, Jacek
Data publikacji:: 2008
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: 13th Conference on Computer Application in Electrical Engineering ZKwE'2008; Poznań, 2008.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Computer measuring set of transient thermal impedance of power semiconductor devices with metal-semiconductor junctions