- Tytuł:
-
Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska
Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska = Effect shallow impurities on the properties and concentrations of deep-level defect centres in SiC
Prace doktorskie - Autorzy:
- Kozubal Michał
- Współwytwórcy:
- Kamiński, Paweł. Promotor.
- Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
- Słowa kluczowe:
-
SiC
Elektronika - materiały
płytka domieszka
shallow impurity
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
centrum defektowe
defect center - Źródło:
-
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5357
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5357
ITME, sygn. P/2328 - Język:
-
polski
streszcz. w jęz. ang. - Prawa:
-
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access - Linki:
- https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/36872/content Link otwiera się w nowym oknie
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
- Książka
Menu główne
Wyszukiwarka
Treść główna
