Obrazowanie powierzchni TiO2 metodą mikroskopii bliskich oddziaływań

Postęp w dziedzinie syntezy i modyfikacji materiałów w skali atomowej wymusza rozwój technik badawczych, służących do charakteryzacji tych struktur. Skaningowa mikroskopia tunelowa (Scanning Tunneling Microscopy – STM) jest jedną z metod, dzięki której można obrazować powierzchnię metali i półprzewodników z atomową zdolnością rozdzielczą.Celem niniejszej pracy było zobrazowanie powierzchni [011] rutylu, jednej z odmian alotropowych tlenku tytanu (IV) przy pomocy skaningowej mikroskopii tunelowej. Wszystkie badania przeprowadzono w warunkach ultrawysokiej próżni. Podczas opracowania danych zmierzono wysokość tarasów atomowych oraz przeprowadzono analizę struktury powierzchni półprzewodnika. Wyniki porównano z danymi literaturowymi.

A progress in the field of synthesis and modification of materials in atomic scale forces an advancement in research techniques, which are used to characterise those structures. Scanning Tunneling Microscopy is one of possibilities, which allows imaging a surface of metals and semiconductors with an atomic resolution.The goal of the thesis was to image surface [011] of rutile, one of alotropic forms of titanium dioxide, with using Scanning Tunnelling Microscope. The measurements were made in ultra high vacuum conditions. A height of atomic terraces were measured and an analysis of the structure of the surface was conducted. Results were compared with the literature data.