Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Importance of wheat grain orientation for the detection of internal mechanical damage by the X-ray method

Szczegóły

Tytuł:: Importance of wheat grain orientation for the detection of internal mechanical damage by the X-ray method
Autorzy:: Grundas S.
Velikanov L.
Archipov M.
Tematy:: grain hardness
internal damage
X-ray method
mechanical damage
wheat grain
Język:: angielski
Dostawca treści:: AGRO
: Artykuł

Przejdź do źródła

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Importance of wheat grain orientation for the detection of internal mechanical damage by the X-ray method