Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra
Autorzy:: Tivanov, M.
Kaputskaya, I.
Patryn, A.
Saad, A.
Survilo, L.
Ostretsov, E.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: semiconductors
CdSxSe1-x
thick films
refractive index
reflection spectra
półprzewodniki
warstwy CdSxSe1-x
współczynnik załamania
widmo odbicia
Język:: angielski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

A method for determining the band gap value and the refractive index near the absorption edge from reflection spectra was tested for CdSxSe1-x films prepared using the screen-printing and sintering technique.

Przeanalizowano metodę wyznaczenia szerokości przerwy energetycznej i współczynnika załamania z pomiarów widma współczynnika odbicie warstw CdSxSe1-x otrzymanych metodami sitodruku i konsolidacji termicznej (sintering technique).

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.

Informacja

Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra