Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Metody badawcze cienkich warstw wytworzonych metodą osadzania warstw atomowych

Szczegóły

Tytuł:: Metody badawcze cienkich warstw wytworzonych metodą osadzania warstw atomowych
Autorzy:: Boryło, Paulina
Szindler, Marek
Szindler, Magdalena
Lukaszkowicz, Krzysztof
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: badanie warstw
cienkie warstwy
osadzanie warstw atomowych
skaningowa mikroskopia elektronowa
mikroskopia sił atomowych
layer analysis
thin layers
atomic layer deposition
atomic force microscopy
scanning electron microscopy
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Metody badawcze cienkich warstw wytworzonych metodą osadzania warstw atomowych