Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

The Influence of the Air Gap on the Characteristics of the Double-Shielded Microstrip Delay Devices

Tytuł:
The Influence of the Air Gap on the Characteristics of the Double-Shielded Microstrip Delay Devices
Autorzy:
Mikucionis, S.
Urbanavicius, V.
Gurskas, A.
Krukonis, A.
Data publikacji:
2014
Słowa kluczowe:
double-shielded microstrip device
air gap
meander delay line
effective permittivity
characteristic impedance
podwójnie ekranowany mikropasek DSM
układ opóźniający
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
A double-shielded microstrip (DSM) device is made of conventional microstrip device and by mounting additional shielded dielectric plate on top of it. The resulting structure is similar to the strip line, but there is a significant difference – a thin air gap that is equal to the thickness of the microstrip. The thickness of this air gap can become uncontrollable in the device manufacture process. In this paper the influence of thin air gap on the electrical parameters of DSM devices such as: microstrip line, coupled lines, multiconductor line, and meander delay line is investigated.
W podwójnie ekranowanym mikropasku (DSM) układu opóźniającego DDs dodano dodatkową warstwę dielektryczną. Cienka szczelina powietrzna ma grubość paska. Ta szczelina może być trudna do kontrolowania w procesie produkcji. W artykule analizowano wpływ szczeliny powietrznej na parametry układu DSM.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies