Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures
Autorzy:: Arsoba, R.
Suszyński, Z.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: genetic algorithm
inverse problem
microelectronics
thermal properties
layered structure
Język:: angielski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła Pełny tekst

In the paper, possibilities of application of genetic algorithms to determine thermal properties depth profile in microelectronic layered structures were presented. A developed computational method was described and results obtained using the method for a thyristor structure were presented.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures