Ocena efektywności dopasowania technologicznego dla struktur FPGA

Tematem artykułu jest dopasowanie technologiczne do bloków LUT, zawartych wewnątrz struktury FPGA na etapie dekompozycji. Problem ten został sprowadzony do doboru konfiguracji liczby wejść bloku LUT. Dobór liczby wejść jest skojarzony z doborem odpowiedniej liczności zbiorów związanych podczas dekompozycji. Dla reprezentacji funkcji w postaci diagramów BDD liczność odpowiednich zbiorów zależy od doboru linii cięcia. W artykule zaproponowano nową technikę wyznaczania efektywności dopasowania technologicznego (wybór linii cięcia), poprzez wprowadzenie parametru δ zależnego od liczności zbioru związanego, liczby funkcji wiążących oraz liczby niezbędnych bloków LUT. Dobór odpowiedniej dekompozycji jest uzależniony od wartości uzyskiwanego parametru δ. Artykuł zawiera wyniki eksperymentów ukazujące przydatność opisywanych metod.

---

The topic of the article is concerned with technological mapping for LUT blocks included inside the FPGA structure during decomposition. This problem focuses on the configuration choice of the number of inputs of a LUT block. The choice of the number of inputs is connected with the choice of appropriate number of bound sets while carrying out decomposition. For function representation in the form of BDD diagrams, the number of appropriate sets depends on the choice of cutting lines. The authors have suggested an innovative technique of determining efficiency of technological mapping (the choice of a cutting line). It can be carried out by introducing δ parameter which depends on the number of a bound set, the amount of bound functions, and the number of essential LUT blocks. The choice of an appropriate decomposition makes it conditional on the value of an obtained δ parameter. The article includes the results of the experiments showing the effectiveness of presented methods. The results were compared with other algorithms known from literature as far as the number of necessary logic blocks for carrying out of the structure and the numbers of levels obtained are concerned.