Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej

Szczegóły

Tytuł:: Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Hajduk, Barbara
Jarka, Paweł
Nitschke, Paweł
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: elipsometria spektroskopowa
rozkład grubości
cienkie warstwy
badania nieniszczące
spectroscopic ellipsometry
thickness distribution
thin films
non-destructive testing
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej