Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Wpływ zmiany głębokości skrawania na wartość sił skrawania i parametr chropowatości powierzchni podczas toczenia czopów wałów

Tytuł:
Wpływ zmiany głębokości skrawania na wartość sił skrawania i parametr chropowatości powierzchni podczas toczenia czopów wałów
Autorzy:
Labuda, W.
Kozyra, D.
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
siły skrawania
parametr chropowatości powierzchni
toczenie wykończeniowe
cutting forces
surface roughness parameter
finish turning
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule przedstawiono wyniki badań wpływu zmiany głębokości skrawania na wartość sił skrawania oraz parametr chropowatości powierzchni czopów wałów. Badania przeprowadzono na wałku o średnicy 50 mm wykonanym ze stali konstrukcyjnej S235JR. Proces toczenia czopów wału przeprowadzono na tokarce uniwersalnej kołowej CU500MRD. Podczas badań wykorzystano nóż tokarski z wymienną płytką skrawającą CCMT09T304 PF. Natomiast pomiar sił skrawania podczas toczenia rejestrowano przy użyciu siłomierza firmy Kistler. Pomiar parametrów chropowatości wykonano na profilometrze W20. Do badań wykorzystano również współrzędnościową optyczną maszynę pomiarową Baty Venture Plus oraz optyczny spektrometr emisyjny Solaris.
The paper presents the results of influence of changes in the depth of cut on the value of the cutting forces and surface roughness parameters of shaft pins. The turning process of shaft pins φ 50 mm in diameter, made of S235JR steel was carried out on a CU500MRD universal machine. The lathing process was conducted by a cutting tool with CCMT 09T304 PF removable inserts. The measurement of cutting forces during turning was recorded using a dynamometer made by Kistler. The measurement of surface roughness parameter was performed by W20 profilometer. For research also used the Baty Venture optical coordinate measuring machine and the Solaris optical emission spectrometer.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies