Tytuł pozycji:
Odporność informatycznych nośników danych na narażenia impulsami HPEM
W artykule przedstawiono metodę oceny odporności urządzeń elektronicznych na wysokoenergetyczne impulsy elektromagnetyczne przeprowadzoną przez pracowników LAB-KEM WEL WAT. Ocena odporności urządzeń elektronicznych pomaga zrozumieć próg podatności tych urządzeń na środowisko impulsów elektromagnetycznych o wysokich mocach (ang: High Power Electromagnetic – HPEM). Ocena ta skupia się na określeniu progu wytrzymałości sprzętu komputerowego (nośników danych) podczas pracy tych urządzeń w środowisku HPEM.
The paper presents method for assessing immunity electronic equipment for high power electromagnetic pulses carried out by employees of the LAB-KEM MUT. Assessment immunity of electronic equipment will help you understand the susceptibility threshold of these devices onthe high power electromagnetic pulses environment (called High Power Electromagnetic - HPEM). This assessment focuses on determining the upper limit of strength the computer equipment (storage devices) in the HPEM environment.