Automatic setup for characterizing structures exhibiting magnetoresistive effects

This article describes the development of an automated measurement system for thin-film structures exhibiting magnetoresistive effects, such as anisotropic and giant magnetoresistance. The system includes a resistance/impedance meter and a sample positioning table controlled by Matlab software. Details on the system's design, including the use of Arduino Nano for controlling the positioning table, are provided. Examples of application in measuring resistance changes in different sample orientations are discussed.

---

W artykule opisano rozwój zautomatyzowanego systemu pomiarowego struktur cienkowarstwowych wykazujących efekty magnetorezystancyjne, takie jak magnetorezystancja anizotropowa i gigantyczna. System składa się z miernika rezystancji/impedancji oraz stołu do pozycjonowania próbek sterowanego oprogramowaniem Matlab. Podano szczegóły dotyczące konstrukcji systemu, w tym wykorzystania Arduino Nano do sterowania stołem pozycjonującym. Omówiono przykłady zastosowań w pomiarze zmian rezystancji w różnych orientacjach próbek.

---

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa nr POPUL/SP/0154/2024/02 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki II" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2025).