Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

The problem of information leak due to parasitic loop currents and voltages in the KLJN secure key exchange scheme

Tytuł:
The problem of information leak due to parasitic loop currents and voltages in the KLJN secure key exchange scheme
Autorzy:
Melhem, Mutaz Y.
Kish, Laszlo B.
Data publikacji:
2019
Słowa kluczowe:
unconditional security
key exchange
parasitic loop currents and voltages
information leak
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie  Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie
The Kirchhoff-law-Johnson-noise (KLJN) secure key exchange scheme offers unconditional security, however it can approach the perfect security limit only in the case when the practical system’s parameters approach the ideal behavior of its core circuitry. In the case of non-ideal features, non-zero information leak is present. The study of such leaks is important for a proper design of practical KLJN systems and their privacy amplifications in order to eliminate these problems.
2. Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies