Tytuł pozycji:
Półautomatyczny układ pomiarowy multispektralnego interferometru laserowego do wzorcowania długich płytek wzorcowych
Artykuł opisuje wyniki prac nad multispektralnym interferometrem laserowym do wzorcowania długich płytek wzorcowych, który powstał jako wynik współpracy Laboratorium Długości Głównego Urzędu Miar z Instytutem Mikromechaniki i Fotoniki Wydziału Mechatroniki Politechniki Warszawskiej. Zaprezentowany został zautomatyzowany układ pomiarowy z systemem stabilizacji i monitorowania warunków środowiskowych oraz oprogramowaniem do analizy obrazu i sterowania układem.
This paper describes the results of work on the multiwavelength laser interferometer for calibration of long gauge blocks, which was a result of the cooperation between the Length Laboratory of Central Office of Measures and the Institute of Micromechanics and Photonics at Warsaw University of Technology. The automated measuring setup with the system of environmental condition controlling and monitoring was presented together with image analysis and controlling software.
Artykuł powstał na podstawie referatu przedstawionego na konferencji XI Szkoła-Konferencja „Metrologia wspomagana komputerowo" MWK’2017.