- Tytuł:
- Metrologia przyszłości. Czy powinniśmy się bać?
- Autorzy:
- Wieczorowski, Michał
- Data publikacji:
- 2023
- Słowa kluczowe:
-
wytwarzanie przyrostowe
pomiary bezstykowe
automatyzacja pomiarów
big data
rzeczywistość rozszerzona
rzeczywistość wirtualna
sztuczna inteligencja - Język:
- polski
- Dostawca treści:
- BazTech
- Artykuł