Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

First-principles study of doping and distribution of Si in TiC

Tytuł:
First-principles study of doping and distribution of Si in TiC
Autorzy:
Ding, H. M.
Ci, T. J.
Chu, K. Y.
Wang, J. F.
Data publikacji:
2013
Słowa kluczowe:
composite materials
crystal structure
defects
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
In this work, first principles calculations have been performed to study the doping and distribution of Si atoms in TiC lattice. The results confirm that Si atoms prefer to occupy Ti sites and their segregation on the TiC crystal surface may occur. But in the presence of carbon vacancies on the surface, Si atoms tend to be chemically adsorbed around the vacancies rather than occupy the carbon sites. It is also shown that the diffusion of Si may be very difficult in stoichiometric TiC, in particular the diffusion from bulk to surface. However, the carbon vacancies can considerably decrease the energy barrier and enhance the diffusion of Si atoms.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies