Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Parametry charakteryzujące dokładność przemysłowych tomografów komputerowych według wytycznych VDI/VDE. Cz. 1

Tytuł:
Parametry charakteryzujące dokładność przemysłowych tomografów komputerowych według wytycznych VDI/VDE. Cz. 1
Data publikacji:
2017
Słowa kluczowe:
tomograf komputerowy
metrologia
defektoskopia
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Tomografy komputerowe stanowią obecnie nową grupę urządzeń pomiarowych stosowanych w ośrodkach badawczych związanych z przemysłem maszynowym (zwłaszcza motoryzacyjnym i elektronicznym). Stosowane są coraz częściej bezpośrednio w przemyśle w procesach kontroli jakości. Pozwalają one wyznaczać wymiary przestrzennie uformowanych elementów wytwarzanych przez przemysł maszynowy, motoryzacyjny i lotniczy. Mimo że technika ta jest mniej dokładna od pomiarów za pomocą współrzędnościowych maszyn pomiarowych, charakteryzuje się względem niej pewną przewagą, bowiem może ona wykrywać nieciągłości materiałowe mierzonego przedmiotu w postaci wad w aspekcie defektoskopii, wyznaczać wymiary wewnętrzne oraz monitorować wyniki monta- żu zespołów mechanicznych i elektrycznych.
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies