Zaawansowana analiza powierzchni próbki w mikroskopii świetlnej

Szybki postęp we współczesnej mikroskopii świetlnej wymusza stosowanie coraz bardziej wyrafinowanych technik służących nie tylko do samej wizualizacji dwuwymiarowej, ale również zaawansowanej analizy pozwalającej uzyskiwać więcej informacji o badanych obiektach. Najnowocześniejszym rozwiązaniem dedykowanym tym celom jest moduł mikroskopowy PhaseView, umożliwiający w prosty sposób rozbudowę dowolnego mikroskopu pracującego w technice jasnego pola o szereg nowych funkcjonalności.

---

Fast advancement in the field of modern optical microscopy implicates application of more sophisticated techniques used not only for aquisition of two-dimensional images but also for advanced image and surface analysis leading to obtaining more information about object to be analyzed. The state-of-the-art solution dedicated to these purposes in PhaseView microscope module for any existing optical microscope working in the bright field that enables users to apply many new funcionalites.