Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current

In this paper, selection of the optimum test conditions for catastrophic fault diagnosis of analog circuits containing MOS transistors is presented. The method of fault detection applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. The stimulate signal parameters and values of additional components are changed in optimization process to extend variation between the test signals for considered faults. An illustrative numerical example is presented.

---

W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzeń informacje o właściwościach układu są zakodowane w przebiegu prądu źródła, zasilającego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzającego i wartości dodatkowych elementów są modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powiększyc różnice między sygnałami testowymi odpowiadającymi rozważanym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie.