Characterization of defects in conductive materials by the intrusive stochastic method using the random variable Lognormal

The aim of this study is to evaluate the reliability of an electromagnetic system due to the presence of a rectangular defect in nondestructive testing by eddy currents. The distribution of the hazard which corresponds to the electrical conductivity of the conductive material is represented by the random variable of Lognormal type which is associated with the spectral stochastic finite element model (SSFEM). The results obtained are compared with those of the Monte Carlo simulation and the experimental measurements. an assessment of the probability of failure is made.

---

Celem pracy jest ocena niezawodności systemu elektromagnetycznego ze względu na obecność wady prostokątnej w badaniach nieniszczących prądami wirowymi. Rozkład zagrożenia, który odpowiada przewodności elektrycznej materiału przewodzącego, jest reprezentowany przez zmienną losową typu Lognormal, która jest powiązana ze spektralnym stochastycznym modelem elementów skończonych (SSFEM). Otrzymane wyniki porównuje się z wynikami symulacji Monte Carlo i pomiarami eksperymentalnymi. dokonuje się oceny prawdopodobieństwa niepowodzenia.