Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych

Szczegóły

Tytuł:: Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
badanie materiałów
badanie struktury
atomic force microscopy (AFM)
materials testing
structure examination
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych