Wpływ wielkości pola pomiarowego na wartości parametrów struktury geometrycznej powierzchni w układzie 3D

Przedstawiono wpływ zmiany wielkości pola pomiarowego w układzie X, Y na wielkość parametrów stereometrycznych charakteryzujących strukturę geometryczną powierzchni. W tym celu dokonano pomiaru pól pomiarowych na powierzchni próbek nagniatanych przy użyciu profilografometru New Form Talysurf 2D/3D 120 firmy Taylor Hobson. Do analizy podstawowych parametrów topografii powierzchni w układzie 2D i 3D wykorzystano program TalyMap Platinum 5.1.1.

---

The effect of variation in the size of the measurement field in the X, Y system on the magnitude of stereometic parameters characterizing the surface texture is presented. For this purpose, the measurement fields were measured on the surface of burnished specimens using a New Form Talysurf 2D/3D 120 profilographometer supplied by Taylor Hobson. For the analysis of the basic surface texture parameters in the 2D and 3D systems, the TalyMap Platinum 5.1.1 software application was employed.