Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Staszuk, M.
Jarka, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
analiza powierzchni
atomic force microscopy
surface analysis
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych