Aproksymacja czasowych zależności ładunku ciemnego w matrycy CCD

Celem artykułu jest przedstawienie propozycji aproksymacji zależności prądu ciemnego w matrycach CCD. Jak wcześniej zauważono, gromadzenie ładunku termicznego w pikselu może następować w sposób nieliniowy, wykazując z czasem znaczący spadek tempa generacji. Prezentowana aproksymacja bazuje na fakcie, iż prędkość generacji związana jest z ilością już zgromadzonego ładunku. Metoda została sprawdzona na charakterystykach czasowych prądu ciemnego dla matrycy KAI-11000M firmy Kodak.

---

In the article a new approximation method for exposure time dependencies of dark current in CCD was presented. As it was reported before, some pixels had nonlinear dark current characteristics with a significant drop of dark charge generation. The novel approximation is based on the fact that the dark current generation ratio depends on the amount of already collected charge. The method was examined on dark current dependencies of Kodak KAI-11000M CCD sensor.