Ilościowa analiza profilowa powłok ze stopów cynku metodą optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym (GD OES)

Celem badań było opracowanie metody ilościowej analizy profilowej GD OES oznaczenia zawartości pierwiastków stopowych i zanieczyszczeń w metalicznych powłokach na bazie cynku. Opracowano procedurę badawczą obejmującą oznaczanie grubości powłok oraz zawartość sześciu pierwiastków metodą GD OES na spektrometrze Polyvac 2000 GDS.

---

The aim of the tests was to develop the GD OES quantitative depth profile analysis method for determination of the contents of alloy elements and impurities in metallic zinc-based coatings. A testing procedure that included determination of the coating thicknesses and the contents of six elements by GD OES method using Polyvac 2000 GDS spectrometer was developed.