Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Opracowanie bazy danych dla identyfikacji struktur wielofazowych za pomocą skaningowego mikroskopu elektronowego Inspect F wyposażonego w EBSD, EDS i WDS

Tytuł:
Opracowanie bazy danych dla identyfikacji struktur wielofazowych za pomocą skaningowego mikroskopu elektronowego Inspect F wyposażonego w EBSD, EDS i WDS
Autorzy:
Gazdowicz, J.
Radwański, K.
Krztoń, H.
Data publikacji:
2012
Słowa kluczowe:
identyfikacja
struktura wielofazowa
mikroskopu skaningowy
identification
multi-phase structures
scanning electron microscope
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Opracowano i przedstawiono na przykładzie węglika tantalu metodykę tworzenia nowych kart materiałowych o wzorcowych układach linii Kikuchiego. Bazując na opracowanej metodyce utworzono własną bazę danych pod nazwą "IMZ" dla stopów wielofazowych. W oparciu o tę bazę przeprowadzono badania aplikacyjne identyfikowanych faz na przykładzie 2 różnych stopów niklu.
The methodology for creation of new material cards with standard Kikuchi line systems on the example of tantalum carbide was developed and presented. Based on the developed methodology, the own databases named "IMZ" was created for heterogeneous alloys. Using this database, the application tests for identified phases were carried out on the example of two nickel alloys.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies