Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

X-TOP 2000 [Ze zjazdów i konferencji]

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: X-TOP 2000 [Ze zjazdów i konferencji]
Autorzy:: Gronkowski, J.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: rentgenowska dyfraktometria wysokorozdzielcza
topografia
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

W dniach 13-15 września 2000 r. odbyła się w Ustroniu-Jaszowcu V Międzynarodowa Konferencja Rentgenowskiej Dyfraktometrii Wysokorozdzielczej i Topografii (5th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography) X-TOP 2000, zorganizowana wspólnie przez Instytut Fizyki Doświadczalnej Uniwersytetu Warszawskiego oraz Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk w Warszawie.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

X-TOP 2000 [Ze zjazdów i konferencji]