Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analytical electron microscopy of interfacial segregation - a short review.

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Analytical electron microscopy of interfacial segregation - a short review.
Autorzy:: Zięba, P.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: mikroskopia elektronowa
segregacja międzyfazowa
ziarno
stop
electron microscopy
interfacial segregation
grain
alloy
Język:: angielski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

The paper reviews the capabilities of the analytical electron microscopy for the study of the changes in the chemical composition which occur at grain boundaries. A strong emphasise was given for the deconvolution procedure necessary to obtain the most information from the elemental composition profiles.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Analytical electron microscopy of interfacial segregation - a short review.