Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Zastosowanie dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów do wyznaczania grup punktowych i grup przestrzennych kryształów

Tytuł:
Zastosowanie dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów do wyznaczania grup punktowych i grup przestrzennych kryształów
Autorzy:
Gigla, M.
Szędzielorz, A.
Morawiec, H.
Data publikacji:
1999
Słowa kluczowe:
dyfrakcja zbieżnej wiązki elektronów
grupa punktowa
grupa przestrzenna
kryształ
linie GM
defekt
convergent beam electron
diffraction technique
CBED
point groups
space groups
crystal
SM lines
defect
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Stosując technikę dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów (CBED), zamiast ostrych plamek dyfrakcyjnych otrzymuje się dyski dyfrakcyjne. Analiza wewnętrznej symetrii tych dysków pozwala jednoznacznie wyznaczyć grupę punktową nieznanej fazy krystalicznej. Ponadto analiza tzw. linii GM, będących efektem dynamicznego oddziaływania wielu wiązek elektronów, umożliwia wyznaczenie grupy przestrzennej. Celem prezentowanej pracy było przeprowadzenie pełnej procedury wyznaczania grup punktowych i przestrzennych na podstawie obrazów CBED w przypadku próbek metalicznych (Al oraz Zn), które w związku z dużą plastycznością charakteryzuje zwykle stosunkowo duży stopień zdefektowania. Zgodnie bowiem z danymi literaturowymi, skoncentrowanymi głównie na materiałach o małej plastyczności, zdefektowanie próbek zaburza obraz wewnątrz dysków dyfrakcyjnych.
The convergent beam electron diffraction (CBED) gives diffraction discs instead of sharp diffraction spots. Analysis of an internal symmetry of these discs makes the determination of the point group of an unknown crystal phase possible. Moreover, due to the analysis of the co-called GM-lines, resulting from the dynamical interaction of many electron beams the determination of the space group is also feasible. The aim of this work was to carry out the full procedure necessary to determine the point and space groups from CBED patterns obtained for metallic samples (Al and Zn) containing a considerable number of defects. Up till now literature data have focused mainly on materials with low plasticity since defects can destroy the pattern inside diffraction discs.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies