Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Advanced techniques for nanotribological studies

Tytuł:
Advanced techniques for nanotribological studies
Autorzy:
Rymuza, Z.
Data publikacji:
2010
Słowa kluczowe:
nanotribologia
nanotribometria
mikroskop sił atomowych
AFM
nanoindentacja
nanotribology
nanotribometry
atomic force microscope
nanoindentation
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The advanced techniques used in nanotribological studies are discussed. Various techniques such as Atomic Force Microscopy (AFM), Surface Force Apparatus (SFA), Nanoindentation technique, etc. are described and their suitability to study friction on a nano-scale are evaluated. Some examples of the use of these instruments for nanotribological studies are given.
W artykule przedstawiono zaawansowane techniki badań nanotribologicznych. Opisano różne techniki, takie jak mikroskopia sił atomowych (AFM), aparat do pomiaru sił powierzchniowych (SFA), techniki nanoindentacji (nanowgłębnikowania) i oceniono ich przydatność do badania tarcia w nanoskali. Podano też przykłady wykorzystania niektórych technik do badań nanotribologicznych.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies